設(shè)備適用于儀器儀表、電工、電子產(chǎn)品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、航空航天產(chǎn)品及其他相關(guān)產(chǎn)品零部件在高溫、低溫、濕熱的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在高溫、低溫、濕熱、條件下對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過檢測(cè)，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用
設(shè)備執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
GB10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589-2006低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2006高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB11158-2006高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2001試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.2-2001試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.3-1993試驗(yàn)Ca: 恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備